涂層測(cè)厚儀是采用電渦流測(cè)厚法的便攜式覆層測(cè)厚儀，它能快速、無(wú)損傷、地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專(zhuān)業(yè)*的儀器?？蔁o(wú)損地測(cè)量非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度（如橡膠、油漆、塑料、陽(yáng)極氧化膜等）。

產(chǎn)品型號(hào)：HC-220

更新時(shí)間：2019-03-05

廠商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商

訪問(wèn)量：2416

產(chǎn)品咨詢 13303453627

product

產(chǎn)品分類(lèi)

實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)分析儀器

平整度彎曲度儀色度儀真空泵便攜式溫腐蝕液體采樣器蠕動(dòng)泵超聲波身體重秤焦化產(chǎn)品甲苯不溶物測(cè)定儀粉體振實(shí)密度測(cè)定儀培養(yǎng)器校準(zhǔn)儀源還原糖生物傳感分析儀卷邊鋸卷邊投影儀乳化機(jī) 攪拌機(jī) 硅鋼片鐵損磁感測(cè)定儀數(shù)顯腐蝕凹坑深度儀研磨粉碎機(jī) 分散機(jī) 均質(zhì)器消解器消解儀恒溫核酸擴(kuò)增熒光儀紫外線分析儀白度儀電子天平測(cè)厚儀眼科設(shè)備校準(zhǔn)鑒定裝置采樣器水分儀模擬應(yīng)變量校準(zhǔn)器露點(diǎn)儀工業(yè)產(chǎn)品檢測(cè)儀活性炭檢測(cè)分析儀微量水分測(cè)定儀

tel-phone

0355-2234100

查看全部

article

相關(guān)文章

詳細(xì)介紹在線留言

品牌	其他品牌	價(jià)格區(qū)間	1千-5千

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

涂層測(cè)厚儀是采用電渦流測(cè)厚法的便攜式覆層測(cè)厚儀，它能快速、無(wú)損傷、地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專(zhuān)業(yè)*的儀器。可無(wú)損地測(cè)量非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度（如橡膠、油漆、塑料、陽(yáng)極氧化膜等）。

涂層測(cè)厚儀主要特點(diǎn)：

1.采用了渦流測(cè)厚方法，可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度。

2.具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單詞測(cè)量方式（SINGLE）。

3.具有兩種工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（App1）。

4.設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、大值（MAX）、小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO.）、偏差（S.DEV）。

5.可采用兩種方法對(duì)一起進(jìn)行校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正。

6.具有存貯功能：可存貯500個(gè)測(cè)量值。

7.具有刪除功能：對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，可也刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù),以便進(jìn)行新的測(cè)量。

8.可設(shè)置限界：對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警；并可用直方圖對(duì)一批測(cè)量值進(jìn)行分析。

9.具有打印功能：可打印測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值、限界、直方圖。

10.具有與PC機(jī)通訊的同能：可將測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值傳輸至PC機(jī)，以便對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行進(jìn)一步處理。

11.具有電源欠壓指示功能。

12.操作工程有蜂鳴聲提示。

13.具有錯(cuò)誤提示功能，通過(guò)屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示。

14.設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式。

參數(shù)規(guī)格：

測(cè)頭類(lèi)型		HC-220（磁性N）
工作原理		渦流
測(cè)量范圍（µm）		0~1250 銅上鍍鉻（0-40）
低限分辨率（µm）		0.1µm（0-100），1µm（100-1250）
顯示		背面照面，四位讀數(shù)顯示，兩行統(tǒng)計(jì)數(shù)字顯示，中文操作
校準(zhǔn)		廠家校準(zhǔn)，零校準(zhǔn)，校準(zhǔn)箔校準(zhǔn)
示值	一點(diǎn)校準(zhǔn)（µm）	±(3%H+1.5)
	二點(diǎn)校準(zhǔn)（µm）	±[(1~3%H)+1.5]
測(cè)試條	測(cè)小曲率半徑（µm）	凸面：1.5mm/凹面：3mm
	小面值的直徑（mm)	Φ5
	基體臨界厚度（mm)	0.3mm
使用環(huán)境		溫度：0℃-40℃
		濕度：20%RH-90%RH
		無(wú)強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境
外形尺寸		1406530mm
凈重量		0.2KG

探頭選用參數(shù)表：

覆蓋層	有機(jī)材料等非磁性覆蓋層	非磁性的有色金屬覆蓋層
基體	（如：漆料、涂料、塑料、搪瓷和陽(yáng)極化處理等）	（如：鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等）
如鐵、鋼等磁性金屬	F型探頭測(cè)量范圍0µm~1250 µm	F型探頭測(cè)量范圍：0µm~1250 µm
如銅、鋁、黃銅鋅、錫等有色金屬	N型探頭測(cè)量范圍0µm~1250 µm	N型探頭僅用于銅上鍍鉻測(cè)量范圍0-40